SN74LVTH182512DGGR

N.º de pieza del fabricante
SN74LVTH182512DGGR
Fabricante
Texas Instruments
Paquete/Caso
-
Ficha de datos
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Descripción
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Valores:
En stock

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Fabricante :
Texas Instruments
categoria de producto :
Lógica - Especialidad Lógica
Logic Type :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Mounting Type :
Surface Mount
Number of Bits :
18
Operating Temperature :
-40°C ~ 85°C
Package / Case :
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Product Status :
Active
Supplier Device Package :
64-TSSOP
Supply Voltage :
2.7V ~ 3.6V
Hojas de datos
SN74LVTH182512DGGR

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