SN74ABT8245DW

N.º de pieza del fabricante
SN74ABT8245DW
Fabricante
Texas Instruments
Paquete/Caso
-
Ficha de datos
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Descripción
IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Valores:
En stock

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Fabricante :
Texas Instruments
categoria de producto :
Lógica - Especialidad Lógica
Logic Type :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Mounting Type :
Surface Mount
Number of Bits :
8
Operating Temperature :
-40°C ~ 85°C
Package / Case :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Product Status :
Active
Supplier Device Package :
24-SOIC
Supply Voltage :
4.5V ~ 5.5V
Hojas de datos
SN74ABT8245DW

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